Qualitätskontrolle im Millimeter-Bereich

Neuer Abstandsensor von Sick

09. Mai 2008

Geräteversionen für vier Messbereiche bis 1.000 mm, hohe Genauigkeit für präzise Messaufgaben und Zuverlässigkeit auch bei spiegelnden Objektoberflächen bietet der neue Abstandsensor DT20 Hi von Sick. Das Gerät wird zur Qualitätsprüfung im Millimeter-Bereich eingesetzt, aber auch zur Detektion von kleinen Teilen. Der DT20 Hi ist ein Abstandsensor mit Rotlicht-Laserdiode in Schutzklasse 2. Die Baureihe bietet vier Geräteversionen – alle im IP65 geschützten Metallgehäuse – für Messbereiche von 50 – 150 mm, 100 – 300 mm, 100 – 600 mm und 100 – 1.000 mm. Dabei erreicht der DT20 Hi selbst bei größtem Messabstand zum Objekt eine Auflösung, die feiner ist als 1 mm. Der Lichtfleck der Diode auf dem Objekt ist, z.B. bei einem Abstand von 600 mm, nur etwa 3 mm groß. Dies und die kurze Ansprechzeit von unter 15 ms erlaubt es, mit dem DT20 Hi auch kleine und schnelle Objekte zuverlässig zu erfassen – dank CMOS-Technologie selbst bei spiegelnden Oberflächen. Dank seines Displays und der intuitiven Menüführung lässt sich der DT20 Hi flexibel konfigurieren und einfach in Betrieb nehmen. Der Anschluss des Gerätes erfolgt über einen 5-poligen M12-Stecker. Bei der Datenausgabe stehen dem Anwender immer ein Analogausgang mit 4-20 mA sowie ein Schaltausgang – wahlweise NPN oder PNP – zur Verfügung.