VIP 2009 - National Instruments

Am 7. Oktober veranstaltete National Instruments bereits zum 14. Mal den Technologie- und Anwenderkongress "Virtuelle Instrumente in der Praxis".

14. Oktober 2009

Technologie- und Anwendervorträge, eine große Fachausstellung, Hands-On-Kurse sowie Anwendertreffen machten den Kongress im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München für die etwa 500 Teilnehmer wieder einmal zu einer einzigartigen Wissensplattform mit einem breit gefächerten Themenangebot.

14. Technologie- und Anwenderkongress

„Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2009“

von National Instruments

Am 7. Oktober veranstaltete National Instruments bereits zum 14. Mal den Technologie- und Anwenderkongress "Virtuelle Instrumente in der Praxis". Technologie- und Anwendervorträge, eine große Fachausstellung, Hands-On-Kurse sowie Anwendertreffen machten den Kongress im Veranstaltungsforum Fürstenfeld bei München für die etwa 500 Teilnehmer wieder einmal zu einer einzigartigen Wissensplattform mit einem breit gefächerten Themenangebot.

Auf dem VIP-Kongress 2009 profitierten die Teilnehmer wieder von einem vielfältigen Programm aus Technologie- und Anwendervorträgen. In den Technologievorträgen von NI präsentierten erfahrene NI-Ingenieure und -Entwickler Neuheiten und technische Details. Anwender konnten erfahren, welche neuen Produkte die Plattformen von National Instruments ergänzen und darüber hinaus Technologien kennen lernen, die ihnen völlig neue Anwendungsmöglichkeiten eröffnen. Im Rahmen der Anwendervorträge stellten Anwender und Systemintegratoren Lösungen und Konzepte zu aktuellen Problemstellungen der Industrie vor.

Highlights in diesem Jahr waren die Keynotes. Zum Auftakt präsentierte Michael Dams als Gastgeber für die NI Central European Region Perspektiven, wie den aktuellen Herausforderungen am besten begegnet werden kann. Als prominente Gastrednerin konnte National Instruments dieses Jahr Prof. Dr. Marion Schick, Vorstand für Personal und Recht, Fraunhofer-Gesellschaft gewinnen. Sie lenkte den Blick der VIP-Besucher dahin, dass auch das Unmögliche oft möglich ist. Von der Ingenieurausbildung bis zur Spitzenforschung stehen die Zeichen auf Innovation. Frau Prof. Dr. Schick gab in ihrer Keynote einige Impulse mit auf den Weg, nannte wichtige Aspekte und erläuterte, welcher Nutzen daraus gezogen werden kann. Wie jedes Jahr durfte auch die R&D-Keynote nicht fehlen, gehalten von Rahman Jamal, Technical Director Central European Region. Die Teilnehmer konnten gemeinsam mit ihm einen Blick in die Zukunft wagen und das hohe Maß an Kreativität und Dynamik erleben, welches das grafische Systemdesign in der industriellen Mess- und Automatisierungstechnik, bei automatisierten Tests, in der Steuer- und Regeltechnik sowie im Embedded-Design ermöglicht.

Gleich eine ganze Reihe von Produktneuheiten von National Instruments standen dabei im Mittelpunkt: NI LabVIEW 2009 (die neue Version der Software für das grafische Systemdesign), 16 neue Datenerfassungsgeräte der X-Serie für PCI Express und PXI Express, eine neue Plattform für dezentrale Überwachungsanwendungen (bestehend aus neuen Wireless-Messknoten (WSN) und NI LabVIEW), die neue Echtzeitprüf- und Simulationssoftware NI VeriStand 2009, neue Software und Module der C-Serie für einfache bis komplexe Motorsteuerungsanwendungen (NI SoftMotion), sowie ein neues PXI-Express-Chassis mit fünf Steckplätzen und integriertem Remote-Controller (PXIe-1073, PXIe-8101/0s).

Darüber hinaus wurden weltweit erstmalig erweiterte Versionen des beliebten CompactDAQ-Chassis von NI vorgestellt. Die neuen NI cDAQ-9174 mit vier und NI cDAQ-9178 mit acht Steckplätzen sind in der Bauform gleich, ergänzen die bisher verfügbaren Chassis aber um eine Option mit vier Steckplätzen, die Möglichkeit von Messungen mit unterschiedlichen Sensoren bei verschiedenen Abtastraten, zwei integrierten, externen BNC-Triggern und vier erweiterten Countern. Dank dieser Funktionen sowie der Treibersoftware NI-DAQmx für die grafische Programmier- und Entwicklungsumgebung NI LabVIEW lässt sich das NI-CompactDAQ-System leicht programmieren und eignet sich insbesondere für Datenerfassungssysteme, die verschiedene Signale erfassen.

Neben den gewohnten Hands-On-Kursen, in denen die Teilnehmer praktische Erfahrungen im Umgang mit NI-Produkten sammeln konnten, gab es in diesem Jahr auch wieder eine Podiumsdiskussion, dieses Mal zum Thema „Die Rolle der Software in der Robotik und Mechatronik“. Experten aus der Industrie standen dem Fachpublikum in einer Diskussion Rede und Antwort. Abgerundet wurde das Programm durch eine Frage- und Antwortrunde mit dem NI-Management.

Unter 75 eingesandten Anwendervorträgen wurde dieses Jahr der Beitrag „Verteilte CompactRIO-Messsysteme im Projekt PowerFLUID“, eingereicht von der Friedrich Grohe AG und S.E.A. Datentechnik GmbH, mit dem „Best Paper Award“ ausgezeichnet. Der Gewinner erhielt einen Flug nach Austin zur kostenlosen Teilnahme an der nächstjährigen NIWeek – dem internationalen Pendant zum VIP, das jedes Jahr im August bei der Muttergesellschaft von National Instruments in Texas stattfindet.

In der kongressbegleitenden Ausstellung präsentierten über 30 Produktpartner und Systemintegratoren ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte. Auf der großzügigen Ausstellungsfläche konnten die Besucher sich über neueste Entwicklungen informieren oder sich mit Ausstellern über Serviceangebote und Lösungsstrategien abstimmen. Die Kaffeebar in der Ausstellung bot Raum für Gespräche und die Gelegenheit, sich mittels aktueller Literatur über branchenspezifische Themen zu informieren.

Auch das Networking kam nicht zu kurz: Die Teilnehmer hatten die Gelegenheit, in lockerer Atmosphäre mögliche Geschäftspartner kennen zu lernen, um dann gemeinsam bei der Happy Hour am Abend den Kongress ausklingen zu lassen.

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